Lee, J. C.; Chung, J.; Rho, Y. R.; Lim, K. M.; Kim, J. C.; Park, J. Y.; Lee, D. W.; Choi, H.; Lee, S. M.; Choi, D. S., et al.
ArticleIssue Date2008CitationINTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ELECTROMAGNETICS AND MECHANICS, v.27, no.3, pp.205 - 214PublisherIOS PRESS