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자기조직화 지도와 매트릭스분석을 이용한 특허분석시스템의 공백기술 예측

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dc.contributor.author전성해-
dc.contributor.author박상성-
dc.contributor.author신영근-
dc.contributor.author장동식-
dc.contributor.author정호석-
dc.date.accessioned2021-09-08T07:28:29Z-
dc.date.available2021-09-08T07:28:29Z-
dc.date.created2021-06-17-
dc.date.issued2010-
dc.identifier.issn1598-4877-
dc.identifier.urihttps://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/117699-
dc.description.abstract특허분석은 전 세계적으로 축적된 특허 데이터베이스로부터 기업의 연구개발 전략에 필요한 지식을 추출하는 것이다. 현재까지 특허출원 결과를 분석하여 해당기술에 대한 기술동향과 전개과정을 파악하여 향후 개발될 기술에 대한 방향정립을 위하여 특허분석은 필요한 결과를 제공한다. 본 논문에서는 특허분석과 관련된 방법 및 시스템에 대한 기술 분류를 수행하고 관련된 국내특허와 미국특허, 그리고 IEEE 논문을 조사하고 분석한다. 특허분석시스템은 기술 분야의 특성상 특허출원뿐만 아니라 연구결과의 논문발표도 활발히 이루어지고 있다. 본 연구에서 선정된 검색어를 통하여 최종적으로 검색된 결과를 이용하여 기술 분류에 따른 분석을 실시한다. 유효한 전체 특허와 논문을 대상으로 특허분석시스템에 필요한 공백기술을 찾아내기 위하여 매트릭스분석을 수행한다. 현재까지 등록된 특허분석시스템에 대한 기술발전 동향을 파악하고 앞으로 필요한 특허분석시스템 관련 기술발전 방향도 제시한다. 통계적 검정과 자기조직화 지도를 이용하여 유효 특허와 논문을 정량적으로 분석하여 국내특허, 미국특허, 그리고 논문 내에서 상대적으로 개발이 취약한 기술을 찾아내고 이에 대한 개발의 필요성도 함께 제시한다.-
dc.languageKorean-
dc.language.isoko-
dc.publisher한국콘텐츠학회-
dc.title자기조직화 지도와 매트릭스분석을 이용한 특허분석시스템의 공백기술 예측-
dc.title.alternativeForecasting Vacant Technology of Patent Analysis System using Self Organizing Map and Matrix Analysis-
dc.typeArticle-
dc.contributor.affiliatedAuthor박상성-
dc.contributor.affiliatedAuthor장동식-
dc.identifier.bibliographicCitation한국콘텐츠학회 논문지, v.10, no.2, pp.462 - 480-
dc.relation.isPartOf한국콘텐츠학회 논문지-
dc.citation.title한국콘텐츠학회 논문지-
dc.citation.volume10-
dc.citation.number2-
dc.citation.startPage462-
dc.citation.endPage480-
dc.type.rimsART-
dc.identifier.kciidART001421557-
dc.description.journalClass2-
dc.description.journalRegisteredClasskci-
dc.subject.keywordAuthor특허데이터-
dc.subject.keywordAuthor특허분석시스템-
dc.subject.keywordAuthor매트릭스분석-
dc.subject.keywordAuthor통계적 검정-
dc.subject.keywordAuthor자기조직화 지도-
dc.subject.keywordAuthorPatent Data-
dc.subject.keywordAuthorPatent Analysis System-
dc.subject.keywordAuthorMatrix Analysis-
dc.subject.keywordAuthorStatistical Test-
dc.subject.keywordAuthorSOM-
dc.subject.keywordAuthorPatent Data-
dc.subject.keywordAuthorPatent Analysis System-
dc.subject.keywordAuthorMatrix Analysis-
dc.subject.keywordAuthorStatistical Test-
dc.subject.keywordAuthorSOM-
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College of Engineering > School of Industrial and Management Engineering > 1. Journal Articles

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