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고분해능 반도체 검출기 배열을 활용한 Fluorescent X-ray Computed Tomography(FXCT) 시스템의 적용 가능성 실험 결과
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Wonho Lee | - |
| dc.date.accessioned | 2021-08-27T19:40:21Z | - |
| dc.date.available | 2021-08-27T19:40:21Z | - |
| dc.date.created | 2021-04-22 | - |
| dc.date.issued | 2018-11-22 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/15750 | - |
| dc.publisher | 대한방사선방어학회 | - |
| dc.title | 고분해능 반도체 검출기 배열을 활용한 Fluorescent X-ray Computed Tomography(FXCT) 시스템의 적용 가능성 실험 결과 | - |
| dc.title.alternative | 고분해능 반도체 검출기 배열을 활용한 Fluorescent X-ray Computed Tomography(FXCT) 시스템의 적용 가능성 실험 결과 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | Wonho Lee | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 2018년 추계 대한방사선방어학회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 2018년 추계 대한방사선방어학회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 추계 학술대회 | - |
| dc.citation.title | 2018년 추계 대한방사선방어학회 | - |
| dc.citation.conferencePlace | KO | - |
| dc.citation.conferenceDate | 2018-11-21 | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
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