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내방사선 센서 측정 칩 설계를 위한 회로 구조 분석 및 방사선에 의한 성능 변화 분석

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DC Field Value Language
dc.contributor.authorLee, Hyung-Min-
dc.date.accessioned2021-08-28T04:26:36Z-
dc.date.available2021-08-28T04:26:36Z-
dc.date.created2021-04-22-
dc.date.issued2017-10-25-
dc.identifier.urihttps://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/21876-
dc.publisher한국물리학회-
dc.title내방사선 센서 측정 칩 설계를 위한 회로 구조 분석 및 방사선에 의한 성능 변화 분석-
dc.title.alternative내방사선 센서 측정 칩 설계를 위한 회로 구조 분석 및 방사선에 의한 성능 변화 분석-
dc.typeConference-
dc.contributor.affiliatedAuthorLee, Hyung-Min-
dc.identifier.bibliographicCitation한국물리학회 추계학술대회-
dc.relation.isPartOf한국물리학회 추계학술대회-
dc.relation.isPartOf추계학술대회-
dc.citation.title한국물리학회 추계학술대회-
dc.citation.conferencePlaceKO-
dc.citation.conferencePlace경주, 대한민국-
dc.citation.conferenceDate2017-10-25-
dc.type.rimsCONF-
dc.description.journalClass2-
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College of Engineering > School of Electrical Engineering > 2. Conference Papers

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Lee, Hyung Min
공과대학 (전기전자공학부)
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