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College of Engineering
School of Industrial and Management Engineering
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KCI
다중 정상 하에서 단일 클래스 분류기법을 이용한 이상치 탐지 : TFT-LCD 공정 사례
주태우;
김성범
Article
Issue Date
2013
Citation
대한산업공학회지, v.39, no.2, pp.82 - 89
Publisher
대한산업공학회
1
Discover
키워드
Bootstrap Method
1
Mahalanobis Distance
1
Novelty Detection
1
TFT-LCD Process
1
발행년도
2013
1
자료유형
Article
1
언어
Korean
1
저널 등재 구분
kci
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