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College of Engineering
School of Industrial and Management Engineering
2. Conference Papers
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사전 학습된 Convolutional Neural Networks를 활용한 확률 기반의 웨이퍼 맵 혼합 패턴 인식
Jun-Geol Baek
Conference
Issue Date
2019
Citation
2019 대한산업공학회 추계학술대회
Publisher
대한산업공학회
Place
KO; 서울(서울대학교)
Wafer Defect 밀도 기반 반도체 DIE 품질 예측 기법
Jun-Geol Baek
Conference
Issue Date
2019
Citation
2019 대한산업공학회 추계학술대회
Publisher
대한산업공학회
Place
KO; 서울(서울대학교)
반도체 디펙(defect)의 특성 데이터를 이용한 IADC(Imageless Automatic Defect Classification) 알고리즘 개발
Jun-Geol Baek
Conference
Issue Date
2019
Citation
2019 대한산업공학회 추계학술대회
Publisher
대한산업공학회
Place
KO; 서울(서울대학교)
AEWGAN(Autoencoder Wasserstein Generative Adversarial Networks)을 이용한 고차원 불균형 데이터 이상 탐지
Jun-Geol Baek
Conference
Issue Date
2019
Citation
2019 대한산업공학회 추계학술대회
Publisher
대한산업공학회
Place
KO; 서울(서울대학교)
RSPSO(Residual weighted Sparse Particle Swarm Optimization)를 활용한 고차원 오버레이 샘플링 선정기법
Jun-Geol Baek
Conference
Issue Date
2019
Citation
2019 대한산업공학회 추계학술대회
Publisher
대한산업공학회
Place
KO; 서울(서울대학교)
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저자/발명자/참여자
Baek, Jun Geol
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발행년도
2019
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자료유형
Conference
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