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다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지
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| DC Field | Value | Language |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Jun-Geol Baek | - |
| dc.date.accessioned | 2021-08-27T09:56:59Z | - |
| dc.date.available | 2021-08-27T09:56:59Z | - |
| dc.date.created | 2021-05-20 | - |
| dc.date.issued | 2020-11-13 | - |
| dc.identifier.uri | https://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/4489 | - |
| dc.publisher | 대한산업공학회 | - |
| dc.title | 다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지 | - |
| dc.title.alternative | 다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지 | - |
| dc.type | Conference | - |
| dc.contributor.affiliatedAuthor | Jun-Geol Baek | - |
| dc.identifier.bibliographicCitation | 2020 대한산업공학회 추계학술대회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 2020 대한산업공학회 추계학술대회 | - |
| dc.relation.isPartOf | 2020 대한산업공학회 추계학술대회 | - |
| dc.citation.title | 2020 대한산업공학회 추계학술대회 | - |
| dc.citation.conferencePlace | KO | - |
| dc.citation.conferencePlace | 서울과학기술대학교 | - |
| dc.citation.conferenceDate | 2020-11-13 | - |
| dc.type.rims | CONF | - |
| dc.description.journalClass | 2 | - |
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