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단일 클래스 분류기법을 이용한 반도체 공정 주기 신호의 이상 분류

Jun-Geol Baek

제목: 단일 클래스 분류기법을 이용한 반도체 공정 주기 신호의 이상 분류

저자: Jun-Geol Baek

발행일: 2011-11-05

학회명: 2011년 대한산업공학회 추계학술대회

개최지: 숭실대학교

개최국가: 대한민국

학회 개최일: 2011-11-05 ~ 2011-11-05