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Measurement of thermal contact resistance between CVD-grown graphene and SiO2 by null point scanning thermal microscopy
영어
- 제목
- Measurement of thermal contact resistance between CVD-grown graphene and SiO2 by null point scanning thermal microscopy
- 제목 (타언어)
- 영어
- 저자
- KWON, Oh Myoung
- 발행일
- 2012-08-21
- 학회명
- Nanotechnology (IEEE-NANO), 2012 12th IEEE Conference on
- 개최지
- 영국(The International Conference Centre Birmingham)
- 개최국가
- 영국
- 학회 개최일
- 2012-08-20 ~ 2012-08-23