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Quantitative Thermal Probing of Devices at Sub-100 nm Resolution
- 제목
- Quantitative Thermal Probing of Devices at Sub-100 nm Resolution
- 저자
- KWON, Oh Myoung
- 발행일
- 2000-04-10
- 학회명
- Institute of Electrical and Electronics Engineers
- 개최지
- San Jose, CA
- 개최국가
- 미국
- 학회 개최일
- 2000-04-10 ~ 2000-04-10