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앙상블 학습을 이용한 DRAM 모듈 출하 품질보증 검사 불량 예측

제목
앙상블 학습을 이용한 DRAM 모듈 출하 품질보증 검사 불량 예측
저자
Jun-Geol Baek
발행일
2011-11-05
학회명
2011년 대한산업공학회 추계학술대회
개최지
숭실대학교
개최국가
대한민국
학회 개최일
2011-11-05 ~ 2011-11-05

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