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Twin ECC: A Data Duplication Based ECC for Strong DRAM Error Resilience
“Twin ECC: A Data Duplication Based ECC for Strong DRAM Error Resilience
- 제목
- Twin ECC: A Data Duplication Based ECC for Strong DRAM Error Resilience
- 제목 (타언어)
- “Twin ECC: A Data Duplication Based ECC for Strong DRAM Error Resilience
- 저자
- Sung Woo Chung
- 발행일
- 2023-04-18
- 학회명
- Design, Automation and Test in Europe Conference
- 개최국가
- 벨기에
- 학회 개최일
- 2023-04-17 ~ 2023-04-19