ScholarWorks@고려대학교

상세 보기

상온 반도체 검출기를 이용한 비파괴 검사법

제목
상온 반도체 검출기를 이용한 비파괴 검사법
저자
Wonho Lee
학회명
2012 대한 방사선 과학회 춘계 학술대회
개최국가
대한민국
학회 개최일
2012-06-02 ~ 2012-06-02

ScholarWorks@고려대학교

02841 서울특별시 성북구 안암로 145 Tel. 02-3290-2963

COPYRIGHT © 고려대학교 All Rights Reserved.

Certain data included herein are derived from the © Web of Science of Clarivate Analytics. All rights reserved.

You may not copy or re-distribute this material in whole or in part without the prior written consent of Clarivate Analytics.