상세 보기
Electrical characterization of Ge2Sb2Te5 nano-pillars in 130nm diameter size using nanosphere lithography and conductive atomic force microscopy
- 제목
- Electrical characterization of Ge2Sb2Te5 nano-pillars in 130nm diameter size using nanosphere lithography and conductive atomic force microscopy
- 저자
- Lee, Heon
- 학회명
- 제 16회 한국 반도체 학술대회
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2009-02-18 ~ 2009-02-20