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High Temperature Characterization of High-K/Metal-Gate 2-Stacked Gate-AllAround Nanowire FET Versus FinFET
High Temperature Characterization of High-K/Metal-Gate 2-Stacked Gate-AllAround Nanowire FET Versus FinFET
- 제목
- High Temperature Characterization of High-K/Metal-Gate 2-Stacked Gate-AllAround Nanowire FET Versus FinFET
- 제목 (타언어)
- High Temperature Characterization of High-K/Metal-Gate 2-Stacked Gate-AllAround Nanowire FET Versus FinFET
- 저자
- LEE Jae Woo
- 발행일
- 2019-02-14
- 학회명
- 제 26회 한국 반도체 학술대회
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2019-02-13 ~ 2019-02-15