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평형점 주사탐침열현미경에 의한 그래핀과 기판 사이 열저항 계측
Measuring the thermal contact resistance between graphene and insulating substrate by null-point scanning thermal microscope
- 제목
- 평형점 주사탐침열현미경에 의한 그래핀과 기판 사이 열저항 계측
- 제목 (타언어)
- Measuring the thermal contact resistance between graphene and insulating substrate by null-point scanning thermal microscope
- 저자
- KWON, Oh Myoung
- 발행일
- 2013-04-05
- 학회명
- 한국 열물성 학회 2013 춘계 학술대회
- 개최지
- 서울
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2013-04-04 ~ 2013-04-05