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반도체 디펙(defect)의 특성 데이터를 이용한 IADC(Imageless Automatic Defect Classification) 알고리즘 개발
반도체 디펙(defect)의 특성 데이터를 이용한 IADC(Imageless Automatic Defect Classification) 알고리즘 개발
- 제목
- 반도체 디펙(defect)의 특성 데이터를 이용한 IADC(Imageless Automatic Defect Classification) 알고리즘 개발
- 제목 (타언어)
- 반도체 디펙(defect)의 특성 데이터를 이용한 IADC(Imageless Automatic Defect Classification) 알고리즘 개발
- 저자
- Jun-Geol Baek
- 발행일
- 2019-11-08
- 학회명
- 2019 대한산업공학회 추계학술대회
- 개최지
- 서울(서울대학교)
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2019-11-08 ~ 2019-11-08