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Oxide bypass 구조를 사용한 500V급 IGBT의 전기적 특성변화에 대한 연구

  • Sung, Man Young
제목
Oxide bypass 구조를 사용한 500V급 IGBT의 전기적 특성변화에 대한 연구
저자
Sung, Man Young
발행일
2011-06-23
학회명
2011년도 한국전기전자재료학회 하계학술대회
개최지
설악 한화콘도
개최국가
대한민국
학회 개최일
2011-06-22 ~ 2011-06-24

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