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Analysis of CdTe Semiconductor Detectors for 2D and 3D Non-Destructive fluorescent X-ray Computed Tomography (FXCT) Experiments
영문
- 제목
- Analysis of CdTe Semiconductor Detectors for 2D and 3D Non-Destructive fluorescent X-ray Computed Tomography (FXCT) Experiments
- 제목 (타언어)
- 영문
- 저자
- Wonho Lee
- 발행일
- 2014-11-13
- 학회명
- IEEE 2014 Nuclear Science Sympoosium and Medical Imaging Conference
- 개최국가
- 미국
- 학회 개최일
- 2014-11-08 ~ 2014-11-15