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다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지
다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지
- 제목
- 다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지
- 제목 (타언어)
- 다중 식별자를 이용한 Adversarial Autoencoder 기반 제조 공정 이상 탐지
- 저자
- Jun-Geol Baek
- 발행일
- 2020-11-13
- 학회명
- 2020 대한산업공학회 추계학술대회
- 개최지
- 서울과학기술대학교
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2020-11-13 ~ 2020-11-13