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LCD Driver IC(LDI)의 Edge Touch 불량 검출을 위한 Pin-to-pin short 테스트기법

  • KIM, Suk Ki
제목
LCD Driver IC(LDI)의 Edge Touch 불량 검출을 위한 Pin-to-pin short 테스트기법
저자
KIM, Suk Ki
학회명
대한전자공학회

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