ScholarWorks@고려대학교
조직
연구자
연구성과
저널
English
상세 보기
Temperature Dependent study of Random Telegraph Noise in Gate-All-Around PMOS Silicon Nanowire Field-Effect-Transistors
Hwang, Sung Woo
Citation
APA
CHICAGO
MLA
VANCOUVER
IEEE
HARVARD
Export
XML (DC)
EXCEL
제목
Temperature Dependent study of Random Telegraph Noise in Gate-All-Around PMOS Silicon Nanowire Field-Effect-Transistors
저자
Hwang, Sung Woo
학회명
2009 Silicon Nanoelectronics Workshop
개최국가
일본
학회 개최일
2009-06-13 ~ 2009-06-14
더보기