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The effect of electrical stress on the leakage current of polycrystalline silicon transistors
- 제목
- The effect of electrical stress on the leakage current of polycrystalline silicon transistors
- 저자
- Ju, Byeongkwon
- 학회명
- 제34회 한국진공학회 동계정기학술대회
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2008-02-14 ~ 2008-02-15