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회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류
회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류
- 제목
- 회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류
- 제목 (타언어)
- 회전 합 이미지 특질 결합 방법론을 활용한 웨이퍼 맵 불량 패턴 분류
- 저자
- Jun-Geol Baek
- 발행일
- 2020-11-13
- 학회명
- 2020 대한산업공학회 추계학술대회
- 개최지
- 서울과학기술대학교
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2020-11-13 ~ 2020-11-13