상세 보기
New Hot-Carrier Degradation Phenomenon in Nano-Scale Floating Body MOSFETs
- 제목
- New Hot-Carrier Degradation Phenomenon in Nano-Scale Floating Body MOSFETs
- 저자
- Ji-Woon Yang
- 학회명
- IEEE International Reliability Physics Symposium
- 개최국가
- 미국
- 학회 개최일
- 2008-04-27 ~ 2008-05-01