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다중 정상 하에서 단일 클래스 분류기법을 이용한 이상치 탐지 : TFT-LCD 공정 사례
A Novelty Detection Algorithm for Multiple Normal Classes : Application to TFT-LCD Processes
- 주태우;
- 김성범
초록
Novelty detection (ND) is an effective technique that can be used to determine whether a future observation is normal or not. In the present study we propose a novelty detection algorithm that can handle a situation where the distributions of target (normal) observations are inhomogeneous. A simulation study and a real case with the TFT-LCD process demonstrated the effectiveness and usefulness of the proposed algorithm.
키워드
Novelty Detection; Multiple Normal Classes; Mahalanobis Distance; Bootstrap Method; Data Mining; TFT-LCD Process
- 제목
- 다중 정상 하에서 단일 클래스 분류기법을 이용한 이상치 탐지 : TFT-LCD 공정 사례
- 제목 (타언어)
- A Novelty Detection Algorithm for Multiple Normal Classes : Application to TFT-LCD Processes
- 저자
- 주태우; 김성범
- 발행일
- 2013
- 저널명
- 대한산업공학회지
- 권
- 39
- 호
- 2
- 페이지
- 82 ~ 89