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Threshold voltage instability in solution-processed silicon-zinc-tin oxide thin film transistors
- 제목
- Threshold voltage instability in solution-processed silicon-zinc-tin oxide thin film transistors
- 저자
- Ju, Byeongkwon
- 학회명
- TOEO7
- 개최국가
- 일본
- 학회 개최일
- 2011-03-14 ~ 2011-03-16