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K-S검정(Kolmogorov-Smirnov test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론
K-S검정(Kolmogorov-Smirnov test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론
- 제목
- K-S검정(Kolmogorov-Smirnov test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론
- 제목 (타언어)
- K-S검정(Kolmogorov-Smirnov test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론
- 저자
- Jun-Geol Baek
- 발행일
- 2017-11-04
- 학회명
- 2017 대한산업공학회 추계학술대회
- 개최지
- KAIST (대전)
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2017-11-04 ~ 2017-11-04