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Enhanced Wafer Bin Map Pattern Recognition with 3D Representation Learning
Enhanced Wafer Bin Map Pattern Recognition with 3D Representation Learning
- 제목
- Enhanced Wafer Bin Map Pattern Recognition with 3D Representation Learning
- 제목 (타언어)
- Enhanced Wafer Bin Map Pattern Recognition with 3D Representation Learning
- 저자
- Jun-Geol Baek
- 발행일
- 2024-05-03
- 학회명
- 2024 대한산업공학회 춘계공동학술대회
- 개최지
- 여수엑스포컨벤션센터
- 개최국가
- 대한민국
- 학회 개최일
- 2024-05-02 ~ 2024-05-04