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- 제목
- Co-existence of Random Telegraph Noise and Single-Hole-Tunneling State in Gate-All-Around PMOS Silicon Nanowire Field-Effect-Transistors
- 저자
- Hwang, Sung Woo
- 발행일
- 2010-09-23
- 학회명
- 2010 International Conference on Solid State Devices and Materials
- 개최지
- Tokyo, Japan
- 개최국가
- 일본
- 학회 개최일
- 2010-09-22 ~ 2010-09-24