Lee, D. Y.; Chung, J. S.; Jeon, J. A.; Kim, H. B.; Kim, H. J.; Kim, H. L.; Kim, Y. H.; Kwon, D. H.; Lee, Y. C.; Lee, K. B., et al.
ArticleIssue Date2025CitationIEEE TRANSACTIONS ON APPLIED SUPERCONDUCTIVITY, v.35, no.5PublisherIEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC