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전체 결과 2 건 중 1 - 2을(를) 표시 중입니다.
KCI
SSVM(Stepwise-Support Vector Machine)을 이용한 반도체 수율 예측
안대웅; 고효헌;
백준걸
; 김지현; 김성식
Article
Issue Date
2009
Citation
산업공학(IE interfaces), v.22, no.3, pp.252 - 262
Publisher
대한산업공학회
KCI
반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론
유영지; 안대웅; 박승환;
백준걸
Article
Issue Date
2015
Citation
대한산업공학회지, v.41, no.3, pp.267 - 274
Publisher
대한산업공학회
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