Hong, B. H.; Cho, N.; Lee, S. J.; Yu, Y. S.; Choi, L.; Jung, Y. C.; Cho, K. H.; Yeo, K. H.; Kim, D. -W.; Jin, G. Y., et al.
ArticleIssue Date2011CitationIEEE ELECTRON DEVICE LETTERS, v.32, no.9, pp.1179 - 1181PublisherIEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC