Odderon Exchange from Elastic Scattering Differences between pp and p(p)over-bar Data at 1.96 TeV and from pp Forward Scattering Measurementsopen access
- Authors
- Abazov, V. M.; Abbott, B.; Acharya, B. S.; Adams, M.; Adams, T.; Agnew, J. P.; Alexeev, G. D.; Alkhazov, G.; Alton, A.; Alves, G. A.; Antchev, G.; Askew, A.; Aspell, P.; Jesus, A. C. S. Assis; Atanassov, I; Atkins, S.; Augsten, K.; Aushev, V; Aushev, Y.; Avati, V; Avila, C.; Badaud, F.; Baechler, J.; Bagby, L.; Barrera, C. Baldenegro; Baldin, B.; Bandurin, D., V; Banerjee, S.; Barberis, E.; Baringer, P.; Barreto, J.; Bartlett, J. F.; Bassler, U.; Bazterra, V; Bean, A.; Begalli, M.; Bellantoni, L.; Berardi, V; Beri, S. B.; Bernardi, G.; Bernhard, R.; Berretti, M.; Bertram, I; Besancon, M.; Beuselinck, R.; Bhat, P. C.; Bhatia, S.; Bhatnagar, V; Blazey, G.; Blessing, S.; Bloom, K.; Boehnlein, A.; Boline, D.; Boos, E. E.; Borchsh, V; Borissov, G.; Borysova, M.; Bossini, E.; Bottigli, U.; Bozzo, M.; Brandt, A.; Brandt, O.; Brochmann, M.; Brock, R.; Bross, A.; Brown, D.; Bu, X. B.; Buehler, M.; Buescher, V; Bunichev, V; Burdin, S.; Burkhardt, H.; Buszello, C. P.; Cafagna, F. S.; Camacho-Perez, E.; Carvalho, W.; Casey, B. C. K.; Castilla-Valdez, H.; Catanesi, M. G.; Caughron, S.; Chakrabarti, S.; Chan, K. M.; Chandra, A.; Chapon, E.; Chen, G.; Cho, S. W.; Choi, S.; Choudhary, B.; Cihangir, S.; Claes, D.; Clutter, J.; Cooke, M.; Cooper, W. E.; Corcoran, M.; Couderc, F.; Cousinou, M-C; Csanad, M.; Csorgo, T.; Cuth, J.; Cutts, D.; da Motta, H.; Das, A.; Davies, G.; Deile, M.; de Jong, S. J.; De la Cruz-Burelo, E.; De Leonardis, F.; Deliot, F.; Demina, R.; Denisov, D.; Denisov, S. P.; Martins, C. De Oliveira; Desai, S.; Deterre, C.; DeVaughan, K.; Diehl, H. T.; Diesburg, M.; Ding, P. F.; Dominguez, A.; Doubek, M.; Drutskoy, A.; Druzhkin, D.; Dubey, A.; Dudko, L., V; Duperrin, A.; Dutt, S.; Eads, M.; Edmunds, D.; Eggert, K.; Ellison, J.; Elvira, V. D.; Enari, Y.; Eremin, V; Evans, H.; Evdokimov, A.; Evdokimov, V. N.; Faure, A.; Feng, L.; Ferbel, T.; Ferro, F.; Fiedler, F.; Fiergolski, A.; Filthaut, F.; Fisher, W.; Fisk, H. E.; Forthomme, L.; Fortner, M.; Fox, H.; Franc, J.; Fuess, S.; Garbincius, P. H.; Garcia, F.; Garcia-Bellido, A.; Garcia-Gonzalez, J. A.; Gavrilov, V; Geng, W.; Georgiev, V; Gerber, C. E.; Gershtein, Y.; Giani, S.; Ginther, G.; Gogota, O.; Golovanov, G.; Grannis, P. D.; Greder, S.; Greenlee, H.; Grenier, G.; Gris, Ph; Grivaz, J-F; Grohsjean, A.; Grunendahl, S.; Grunewald, M. W.; Grzanka, L.; Guillemin, T.; Gutierrez, G.; Gutierrez, P.; Haley, J.; Hammerbauer, J.; Han, L.; Harder, K.; Harel, A.; Hauptman, J. M.; Hays, J.; Head, T.; Hebbeker, T.; Hedin, D.; Hegab, H.; Heinson, A. P.; Heintz, U.; Hensel, C.; Heredia-De la Cruz, I; Herner, K.; Hesketh, G.; Hildreth, M. D.; Hirosky, R.; Hoang, T.; Hobbs, J. D.; Hoeneisen, B.; Hogan, J.; Hohlfeld, M.; Holzbauer, J. L.; Howley, I; Hubacek, Z.; Hynek, V; Iashvili, I.; Ilchenko, Y.; Illingworth, R.; Isidori, T.; Ito, A. S.; Ivanchenko, V; Jabeen, S.; Jaffre, M.; Janda, M.; Jayasinghe, A.; Jeong, M. S.; Jesik, R.; Jiang, P.; Johns, K.; Johnson, E.; Johnson, M.; Jonckheere, A.; Jonsson, P.; Joshi, J.; Jung, A. W.; Juste, A.; Kajfasz, E.; Karev, A.; Karmanov, D.; Kaspar, J.; Katsanos, I; Kaur, M.; Kaynak, B.; Kehoe, R.; Kermiche, S.; Khalatyan, N.; Khanov, A.; Kharchilava, A.; Kharzheev, Y. N.; Kiselevich, I; Kohli, J. M.; Kopal, J.; Kozelov, A., V; Kraus, J.; Kumar, A.; Kundrat, V; Kupco, A.; Kurca, T.; Kuzmin, V. A.; Lami, S.; Lammers, S.; Latino, G.; Lebrun, P.; Lee, H. S.; Lee, S. W.; Lee, W. M.; Le, X.; Lellouch, J.; Li, D.; Li, H.; Li, L.; Li, Q. Z.; Lim, J. K.; Lincoln, D.; Lindsey, C.; Linhart, R.; Linnemann, J.; Lipaev, V. V.; Lipton, R.; Liu, H.; Liu, Y.; Lobodenko, A.; Lokajicek, M.; Lokajicek, M., V; de Sa, R. Lopes; Losurdo, L.; Rodriguez, F. Lucas; Luna-Garcia, R.; Lyon, A. L.; Maciel, A. K. A.; Macri, M.; Madar, R.; Magana-Villalba, R.; Malawski, M.; Malbouisson, H. B.; Malik, S.; Malyshev, V. L.; Mansour, J.; Martinez-Ortega, J.; McCarthy, R.; McGivern, C. L.; Meijer, M. M.; Melnitchouk, A.; Menezes, D.; Mercadante, P. G.; Merkin, M.; Meyer, A.; Meyer, J.; Miconi, F.; Minafra, N.; Minutoli, S.; Molina, J.; Mondal, N. K.; Mulhearn, M.; Mundim, L.; Naaranoja, T.; Nagy, E.; Narain, M.; Nayyar, R.; Neal, H. A.; Negret, J. P.; Nemes, F.; Neustroev, P.; Nguyen, H. T.; Niewiadomski, H.; Novak, T.; Nunnemann, T.; Oguri, V; Oliveri, E.; Oljemark, F.; Orduna, J.; Oriunno, M.; Osman, N.; Osterberg, K.; Pal, A.; Palazzi, P.; Parashar, N.; Parihar, V; Park, S. K.; Partridge, R.; Parua, N.; Pasechnik, R.; Passaro, V; Patwa, A.; Penning, B.; Perfilov, M.; Peroutka, Z.; Peters, Y.; Petridis, K.; Petrillo, G.; Petroff, P.; Pleier, M-A; Podstavkov, V. M.; Popov, A., V; da Silva, W. L. Prado; Prewitt, M.; Price, D.; Prochazka, J.; Prokopenko, N.; Qian, J.; Quadt, A.; Quinn, B.; Quinto, M.; Raben, T. G.; Radermacher, E.; Radicioni, E.; Rangel, M.; Ratoff, P. N.; Ravotti, F.; Razumov, I; Ripp-Baudot, I; Rizatdinova, F.; Robutti, E.; Rodrigues, R. F.; Rominsky, M.; Ross, A.; Royon, C.; Rubinov, P.; Ruchti, R.; Ruggiero, G.; Saarikko, H.; Sajot, G.; Samoylenko, V. D.; Sanchez-Hernandez, A.; Sanders, M. P.; Santoro, A.; Santos, A. S.; Savage, G.; Savitskyi, M.; Sawyer, L.; Scanlon, T.; Schamberger, R. D.; Scheglov, Y.; Schellman, H.; Schott, M.; Schwanenberger, C.; Schwienhorst, R.; Scribano, A.; Sekaric, J.; Severini, H.; Shabalina, E.; Shary, V; Shaw, S.; Shchukin, A. A.; Shkola, O.; Simak, V; Siroky, J.; Skubic, P.; Slattery, P.; Smajek, J.; Snoeys, W.; Snow, G. R.; Snow, J.; Snyder, S.; Soldner-Rembold, S.; Sonnenschein, L.; Soustruznik, K.; Stark, J.; Stefaniuk, N.; Stefanovitch, R.; Ster, A.; Stoyanova, D. A.; Strauss, M.; Suter, L.; Svoisky, P.; Szanyi, I; Sziklai, J.; Taylor, C.; Tcherniaev, E.; Titov, M.; Tokmenin, V. V.; Tsai, Y-T; Tsybychev, D.; Tuchming, B.; Tully, C.; Turini, N.; Urban, O.; Uvarov, L.; Uvarov, S.; Uzunyan, S.; Vacek, V.; Van Kooten, R.; van Leeuwen, W. M.; Varelas, N.; Varnes, E. W.; Vasilyev, I. A.; Vavroch, O.; Verkheev, A. Y.; Vertogradov, L. S.; Verzocchi, M.; Vesterinen, M.; Vilanova, D.; Vokac, P.; Wahl, H. D.; Wang, C.; Wang, M. H. L. S.; Warchol, J.; Watts, G.; Wayne, M.; Weichert, J.; Welti, J.; Welty-Rieger, L.; Williams, J.; Williams, M. R. J.; Wilson, G. W.; Wobisch, M.; Wood, D. R.; Wyatt, T. R.; Xie, Y.; Yamada, R.; Yang, S.; Yasuda, T.; Yatsunenko, Y. A.; Ye, W.; Ye, Z.; Yin, H.; Yip, K.; Youn, S. W.; Yu, J. M.; Zennamo, J.; Zhao, T. G.; Zhou, B.; Zhu, J.; Zich, J.; Zielinski, K.; Zielinski, M.; Zieminska, D.; Zivkovic, L.
- Issue Date
- 4-8월-2021
- Publisher
- AMER PHYSICAL SOC
- Citation
- PHYSICAL REVIEW LETTERS, v.127, no.6
- Indexed
- SCIE
SCOPUS
- Journal Title
- PHYSICAL REVIEW LETTERS
- Volume
- 127
- Number
- 6
- URI
- https://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/144657
- DOI
- 10.1103/PhysRevLett.127.062003
- ISSN
- 0031-9007
- Abstract
- We describe an analysis comparing the p (p) over bar elastic cross section as measured by the D0 Collaboration at a center-of-mass energy of 1.96 TeV to that in pp collisions as measured by the TOTEM Collaboration at 2.76, 7, 8, and 13 TeVusing a model-independent approach. The TOTEM cross sections, extrapolated to a center-of-mass energy of root s = 1.96 TeV, are compared with the D0 measurement in the region of the diffractive minimum and the second maximum of the pp cross section. The two data sets disagree at the 3.4s level and thus provide evidence for the t-channel exchange of a colorless, C-odd gluonic compound, also known as the odderon. We combine these results with a TOTEM analysis of the same C-odd exchange based on the total cross section and the ratio of the real to imaginary parts of the forward elastic strong interaction scattering amplitude in pp scattering for which the significance is between 3.4s and 4.6s. The combined significance is larger than 5 sigma and is interpreted as the first observation of the exchange of a colorless, C-odd gluonic compound.
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
- Appears in
Collections - College of Science > Department of Physics > 1. Journal Articles
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.