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반도체 계측 데이터 기반 군집화를 적용한 개선된 품질예측반도체 계측 데이터 기반 군집화를 적용한 개선된 품질예측
- Alternative Title
- 반도체 계측 데이터 기반 군집화를 적용한 개선된 품질예측
- Authors
- Jun-Geol Baek
- Issue Date
- 9-Nov-2018
- Publisher
- 대한산업공학회
- Citation
- 2018 대한산업공학회 추계학술대회
- Conference Name
- 2018 대한산업공학회 추계학술대회
- Place
- KO
한양대학교(서울)
- Conference Date
- 2018-11-09
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
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Related Researcher
- Baek, Jun Geol
- College of Engineering