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College of Engineering
School of Industrial and Management Engineering
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KCI
반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론
유영지; 안대웅; 박승환;
백준걸
Article
Issue Date
2015
Citation
대한산업공학회지, v.41, no.3, pp.267 - 274
Publisher
대한산업공학회
KCI
MCSVM을 이용한 반도체 공정데이터의 과소 추출 기법
박새롬; 김준석; 박정술; 박승환;
백준걸
Article
Issue Date
2014
Citation
대한산업공학회지, v.40, no.4, pp.404 - 414
Publisher
대한산업공학회
1
Discover
저자/발명자/참여자
김준석
1
박새롬
1
박정술
1
안대웅
1
유영지
1
키워드
Fail bit pattern
1
Imbalanced Data
1
MCSVM
1
Package test
1
Semiconductor
1
Semiconductor Process
1
Support Vectors
1
Under-Sampling
1
Wafer map image
1
Wafer test
1
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발행년도
2015
1
2014
1
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2
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