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College of Engineering
School of Industrial and Management Engineering
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KCI
K-S검정(Kolmogorov-Smirnov Test)을 응용한 반도체 제조 시스템에서의 불량 원인 분석 방법론
옥명훈;
백준걸
Article
Issue Date
2018
Citation
대한산업공학회지, v.44, no.2, pp.132 - 140
Publisher
대한산업공학회
1
Discover
저자/발명자/참여자
Baek, Jun Geol
1
키워드
Failbit
1
K-S Test
1
Non-Parametric Test
1
Outlier
1
Root Cause Analysis
1
Wafer Test
1
자료유형
Article
1
저널
대한산업공학회지
1
저널 등재 구분
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1
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