Measurement of two-particle correlations with respect to second- and third-order event planes in Au plus Au collisions at root s(NN)=200 GeV
- Authors
- Adare, A.; Afanasiev, S.; Aidala, C.; Ajitanand, N. N.; Akiba, Y.; Al-Bataineh, H.; Alexander, J.; Alfred, M.; Aoki, K.; Aramaki, Y.; Atomssa, E. T.; Averbeck, R.; Awes, T. C.; Azmoun, B.; Babintsev, V; Bagoly, A.; Bai, M.; Baksay, G.; Baksay, L.; Barish, K. N.; Bassalleck, B.; Basye, A. T.; Bathe, S.; Baublis, V; Baumann, C.; Bazilevsky, A.; Belikov, S.; Belmont, R.; Bennett, R.; Berdnikov, A.; Berdnikov, Y.; Bickley, A. A.; Boer, M.; Bok, J. S.; Boyle, K.; Brooks, M. L.; Bryslawskyj, J.; Buesching, H.; Bumazhnov, V; Bunce, G.; Butsyk, S.; Camacho, C. M.; Campbell, S.; Roman, V. Canoa; Chen, C-H; Chi, C. Y.; Chiu, M.; Choi, I. J.; Choudhury, R. K.; Christiansen, P.; Chujo, T.; Chung, P.; Chvala, O.; Cianciolo, V; Citron, Z.; Cole, B. A.; Connors, M.; Constantin, P.; Csanad, M.; Csorgo, T.; Dahms, T.; Dairaku, S.; Danchev, I; Danley, T. W.; Das, K.; Datta, A.; David, G.; Dehmelt, K.; Denisov, A.; Deshpande, A.; Desmond, E. J.; Dietzsch, O.; Dion, A.; Do, J. H.; Donadelli, M.; Drapier, O.; Drees, A.; Drees, K. A.; Durham, J. M.; Durum, A.; Dutta, D.; Edwards, S.; Efremenko, Y., V; Ellinghaus, F.; Engelmore, T.; Enokizono, A.; Enyo, H.; Esumi, S.; Fadem, B.; Fan, W.; Feege, N.; Fields, D. E.; Finger, M.; Finger, M., Jr.; Fleuret, F.; Fokin, S. L.; Fraenkel, Z.; Frantz, J. E.; Franz, A.; Frawley, A. D.; Fujiwara, K.; Fukao, Y.; Fusayasu, T.; Gallus, P.; Garg, P.; Garishvili, I; Ge, H.; Glenn, A.; Gong, H.; Gonin, M.; Goto, Y.; de Cassagnac, R. Granier; Grau, N.; Greene, S., V; Perdekamp, M. Grosse; Gunji, T.; Gustafsson, H-A; Hachiya, T.; Haggerty, J. S.; Hahn, K., I; Hamagaki, H.; Hamblen, J.; Han, R.; Hanks, J.; Hartouni, E. P.; Hasegawa, S.; Haseler, T. O. S.; Haslum, E.; Hayano, R.; He, X.; Heffner, M.; Hemmick, T. K.; Hester, T.; Hill, J. C.; Hill, K.; Hodges, A.; Hohlmann, M.; Holzmann, W.; Homma, K.; Hong, B.; Horaguchi, T.; Hornback, D.; Hotvedt, N.; Huang, J.; Huang, S.; Ichihara, T.; Ichimiya, R.; Ide, J.; Ikeda, Y.; Imai, K.; Inaba, M.; Isenhower, D.; Ishihara, M.; Isobe, T.; Issah, M.; Isupov, A.; Ivanishchev, D.; Jacak, B., V; Ji, Z.; Jia, J.; Jin, J.; Johnson, B. M.; Joo, K. S.; Jouan, D.; Jumper, D. S.; Kajihara, F.; Kametani, S.; Kamihara, N.; Kamin, J.; Kang, J. H.; Kapustinsky, J.; Karatsu, K.; Kawall, D.; Kawashima, M.; Kazantsev, A., V; Kempel, T.; Khachatryan, V; Khanzadeev, A.; Kijima, K. M.; Kim, B., I; Kim, D. H.; Kim, D. J.; Kim, E.; Kim, E-J; Kim, M.; Kim, S. H.; Kim, Y-J; Kincses, D.; Kinney, E.; Kiriluk, K.; Kiss, A.; Kistenev, E.; Kochenda, L.; Komkov, B.; Konno, M.; Koster, J.; Kotchetkov, D.; Kotov, D.; Kozlov, A.; Kral, A.; Kravitz, A.; Kunde, G. J.; Kurgyis, B.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Kwon, Y.; Kyle, G. S.; Lacey, R.; Lai, Y. S.; Lajoie, J. G.; Lebedev, A.; Lee, D. M.; Lee, J.; Lee, K.; Lee, K. B.; Lee, K. S.; Lee, S. H.; Leitch, M. J.; Leite, M. A. L.; Leitner, E.; Lenzi, B.; Leung, Y. H.; Lewis, N. A.; Li, X.; Li, X.; Liebing, P.; Lim, S. H.; Levy, L. A. Linden; Liska, T.; Litvinenko, A.; Liu, H.; Liu, M. X.; Lokos, S.; Love, B.; Luechtenborg, R.; Lynch, D.; Maguire, C. F.; Majoros, T.; Makdisi, Y., I; Malakhov, A.; Malik, M. D.; Manko, V., I; Mannel, E.; Mao, Y.; Masui, H.; Matathias, F.; McCumber, M.; McGaughey, P. L.; McGlinchey, D.; Means, N.; Meredith, B.; Miake, Y.; Mignerey, A. C.; Mihalik, D. E.; Mikes, P.; Miki, K.; Milov, A.; Mishra, M.; Mitchell, J. T.; Mitsuka, G.; Mizuno, S.; Mohanty, A. K.; Moon, T.; Morino, Y.; Morreale, A.; Morrison, D. P.; Morrow, S., I; Moukhanova, T., V; Murata, J.; Nagamiya, S.; Nagashima, K.; Nagle, J. L.; Naglis, M.; Nagy, M., I; Nakagawa, I; Nakamiya, Y.; Nakamura, T.; Nakano, K.; Nattrass, C.; Newby, J.; Nguyen, M.; Niida, T.; Nouicer, R.; Novak, T.; Novitzky, N.; Nyanin, A. S.; O'Brien, E.; Oda, S. X.; Ogilvie, C. A.; Oka, M.; Okada, K.; Onuki, Y.; Koop, J. D. Orjuela; Osborn, J. D.; Oskarsson, A.; Ouchida, M.; Ozawa, K.; Pak, R.; Pantuev, V; Papavassiliou, V; Park, I. H.; Park, J.; Park, S.; Park, S. K.; Park, W. J.; Pate, S. F.; Patel, M.; Pei, H.; Peng, J-C; Peng, W.; Pereira, H.; Perepelitsa, D., V; Peresedov, V; Peressounko, D. Yu; PerezLara, C. E.; Pinkenburg, C.; Pisani, R. P.; Proissl, M.; Purschke, M. L.; Purwar, A. K.; Qu, H.; Radzevich, P., V; Rak, J.; Rakotozafindrabe, A.; Ravinovich, I; Read, K. F.; Reygers, K.; Riabov, V; Riabov, Y.; Richardson, E.; Richford, D.; Rinn, T.; Roach, D.; Roche, G.; Rolnick, S. D.; Rosati, M.; Rosen, C. A.; Rosendahl, S. S. E.; Rosnet, P.; Rowan, Z.; Rukoyatkin, P.; Runchey, J.; Ruzicka, P.; Sahlmueller, B.; Saito, N.; Sakaguchi, T.; Sakashita, K.; Sako, H.; Samsonov, V; Sano, S.; Sarsour, M.; Sato, S.; Sato, T.; Sawada, S.; Schmoll, B. K.; Sedgwick, K.; Seele, J.; Seidl, R.; Semenov, A. Yu; Seto, R.; Sharma, D.; Shein, I; Shibata, T-A; Shigaki, K.; Shimomura, M.; Shoji, K.; Shukla, P.; Sickles, A.; Silva, C. L.; Silvermyr, D.; Silvestre, C.; Sim, K. S.; Singh, B. K.; Singh, C. P.; Singh, V; Skoby, M. J.; Slunecka, M.; Soltz, R. A.; Sondheim, W. E.; Sorensen, S. P.; Sourikova, I., V; Sparks, N. A.; Stankus, P. W.; Stenlund, E.; Stoll, S. P.; Sugitate, T.; Sukhanov, A.; Sun, Z.; Sziklai, J.; Takagui, E. M.; Taketani, A.; Tanabe, R.; Tanaka, Y.; Tanida, K.; Tannenbaum, M. J.; Tarafdar, S.; Taranenko, A.; Tarjan, P.; Themann, H.; Thomas, T. L.; Tieulent, R.; Todoroki, T.; Togawa, M.; Toia, A.; Tomasek, L.; Torii, H.; Towell, R. S.; Tserruya, I; Tsuchimoto, Y.; Ueda, Y.; Ujvari, B.; Vale, C.; Valle, H.; van Hecke, H. W.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Velkovska, J.; Vertesi, R.; Vinogradov, A. A.; Virius, M.; Vrba, V.; Vznuzdaev, E.; Wang, X. R.; Watanabe, D.; Watanabe, K.; Watanabe, Y.; Wei, F.; Wei, R.; Wessels, J.; White, S. N.; Winter, D.; Wong, C. P.; Wood, J. P.; Woody, C. L.; Wright, R. M.; Wysocki, M.; Xie, W.; Xu, C.; Xu, Q.; Yamaguchi, Y. L.; Yamaura, K.; Yang, R.; Yanovich, A.; Ying, J.; Yokkaichi, S.; Yoo, J. H.; You, Z.; Young, G. R.; Younus, I; Yu, H.; Yushmanov, I. E.; Zajc, W. A.; Zhang, C.; Zharko, S.; Zhou, S.; Zolin, L.; Zou, L.
- Issue Date
- 7-5월-2019
- Publisher
- AMER PHYSICAL SOC
- Citation
- PHYSICAL REVIEW C, v.99, no.5
- Indexed
- SCIE
SCOPUS
- Journal Title
- PHYSICAL REVIEW C
- Volume
- 99
- Number
- 5
- URI
- https://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/65438
- DOI
- 10.1103/PhysRevC.99.054903
- ISSN
- 2469-9985
- Abstract
- We present measurements of azimuthal correlations of charged hadron pairs in root s(NN) = 200 GeV Au + Au collisions for the trigger and associated particle transverse-momentum ranges of 1 < p(T)(t) < 10 GeV/c and 0.5 < p(T)(a) < 10 GeV/c. After subtraction of an underlying event using a model that includes higher-order azimuthal anisotropy v(2), v(3,) and v(4), the away-side yield of the highest trigger-p(T)(p(T)(t) > 4 GeV/c) correlations is suppressed compared with that of correlations measured in p + p collisions. At the lowest associated particle p(T)(0.5 < p(T)(a) < 1 GeV/c), the away-side shape and yield are modified relative to those in p + p collisions. These observations are consistent with the scenario of radiative-jet energy loss. For the low-p(T) trigger correlations (2 < p(T)(t) < 4 GeV/c), a finite away-side yield exists and we explore the dependence of the shape of the away-side within the context of an underlying-event model. Correlations are also studied differentially versus event-plane angle Psi(2) and Psi(3). The angular correlations show an asymmetry when selecting the sign of the difference between the trigger-particle azimuthal angle and the Psi(2) event plane. This asymmetry and the measured suppression of the pair yield out-of-plane is consistent with a path-length-dependent energy loss. No Psi(3) dependence can be resolved within experimental uncertainties.
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
- Appears in
Collections - College of Science > Department of Physics > 1. Journal Articles
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.