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게이트 절연막과 게이트 전극물질의 변화에 따른 피드백 전계효과 트랜지스터의 히스테리시스 특성 확인

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dc.contributor.author이경수-
dc.contributor.author우솔아-
dc.contributor.author조진선-
dc.contributor.author강현구-
dc.contributor.author김상식-
dc.date.accessioned2021-09-02T21:00:50Z-
dc.date.available2021-09-02T21:00:50Z-
dc.date.created2021-06-16-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.issn1226-7244-
dc.identifier.urihttps://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/80818-
dc.description.abstract본 연구에서는 급격한 스위칭 특성을 달성하기 위해 싱글단일-게이트 실리콘 채널에서 전하 캐리어의 양의 피드백을 이용하는 새롭게 설계된 피드백 전계 효과 트랜지스터를 제안한다. 에너지 밴드 다이어그램, I-V 특성, 문턱전압 기울기 및 on/off 전류 비는 TCAD 시뮬레이터를 이용하여 분석한다 [1]. 피드백 전계 효과 트랜지스터의 중요한 특징 중 하나인 히스테리시스의 특성을 보기 위해 게이트 절연막 물질과 게이트 전극물질을 변경하여 시뮬레이션을 진행했다. 이러한 특성변화는 피드백 전계효과 트랜지스터의 문턱전압 (VTH)을 변화시켰고, 메모리 윈도우 폭이 작아지는 현상을 보였다.-
dc.languageKorean-
dc.language.isoko-
dc.publisher한국전기전자학회-
dc.title게이트 절연막과 게이트 전극물질의 변화에 따른 피드백 전계효과 트랜지스터의 히스테리시스 특성 확인-
dc.title.alternativeThe hysteresis characteristic of Feedback field-effect transistors with fluctuation of gate oxide and metal gate-
dc.typeArticle-
dc.contributor.affiliatedAuthor김상식-
dc.identifier.doi10.7471/ikeee.2018.22.2.488-
dc.identifier.bibliographicCitation전기전자학회논문지, v.22, no.2, pp.488 - 490-
dc.relation.isPartOf전기전자학회논문지-
dc.citation.title전기전자학회논문지-
dc.citation.volume22-
dc.citation.number2-
dc.citation.startPage488-
dc.citation.endPage490-
dc.type.rimsART-
dc.identifier.kciidART002364735-
dc.description.journalClass2-
dc.description.journalRegisteredClasskci-
dc.subject.keywordAuthorFeedback field-effect transistors-
dc.subject.keywordAuthorfeedback mechanism-
dc.subject.keywordAuthorhysteresis-
dc.subject.keywordAuthormemory application-
dc.subject.keywordAuthorhigh-k-
dc.subject.keywordAuthorwork function-
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Kim, Sang sig
공과대학 (전기전자공학부)
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