Nonperturbative-transverse-momentum effects and evolution in dihadron and direct photon-hadron angular correlations in p plus p collisions at root s=510 GeV
- Authors
- Adare, A.; Aidala, C.; Ajitanand, N. N.; Akiba, Y.; Akimoto, R.; Alexander, J.; Alfred, M.; Andrieux, V.; Aoki, K.; Apadula, N.; Aramaki, Y.; Asano, H.; Atomssa, E. T.; Awes, T. C.; Ayuso, C.; Azmoun, B.; Babintsev, V.; Bai, M.; Bai, X.; Bandara, N. S.; Bannier, B.; Barish, K. N.; Bathe, S.; Baublis, V.; Baumann, C.; Baumgart, S.; Bazilevsky, A.; Beaumier, M.; Beckman, S.; Belmont, R.; Berdnikov, A.; Berdnikov, Y.; Black, D.; Blau, D. S.; Boer, M.; Bok, J. S.; Boyle, K.; Brooks, M. L.; Bryslawskyj, J.; Buesching, H.; Bumazhnov, V.; Butler, C.; Butsyk, S.; Campbell, S.; Roman, V. Canoa; Cervantes, R.; Chen, C. -H.; Chi, C. Y.; Chiu, M.; Choi, I. J.; Choi, J. B.; Choi, S.; Christiansen, P.; Chujo, T.; Cianciolo, V.; Citron, Z.; Cole, B. A.; Connors, M.; Cronin, N.; Crossette, N.; Csanad, M.; Csoergo, T.; Danley, T. W.; Datta, A.; Daugherity, M. S.; David, G.; DeBlasio, K.; Dehmelt, K.; Denisov, A.; Deshpande, A.; Desmond, E. J.; Ding, L.; Dion, A.; Dixit, D.; Do, J. H.; D'Orazio, L.; Drapier, O.; Drees, A.; Drees, K. A.; Dumancic, M.; Durham, J. M.; Durum, A.; Elder, T.; Engelmore, T.; Enokizono, A.; En'yo, H.; Esumi, S.; Eyser, K. O.; Fadem, B.; Fan, W.; Feege, N.; Fields, D. E.; Finger, M.; Finger, M., Jr.; Fleuret, F.; Fokin, S. L.; Frantz, J. E.; Franz, A.; Frawley, A. D.; Fukao, Y.; Fukuda, Y.; Fusayasu, T.; Gainey, K.; Gal, C.; Gallus, P.; Garg, P.; Garishvili, A.; Garishvili, I.; Ge, H.; Giordano, F.; Glenn, A.; Gong, X.; Gonin, M.; Goto, Y.; de Cassagnac, R. Granier; Grau, N.; Greene, S. V.; Perdekamp, M. Grosse; Gu, Y.; Gunji, T.; Guragain, H.; Hachiya, T.; Haggerty, J. S.; Hahn, K. I.; Hamagaki, H.; Hamilton, H. F.; Han, S. Y.; Hanks, J.; Hasegawa, S.; Haseler, T. O. S.; Hashimoto, K.; Hayano, R.; He, X.; Hemmick, T. K.; Hester, T.; Hill, J. C.; Hill, K.; Hollis, R. S.; Homma, K.; Hong, B.; Hoshino, T.; Hotvedt, N.; Huang, J.; Huang, S.; Ichihara, T.; Ikeda, Y.; Imai, K.; Imazu, Y.; Imrek, J.; Inaba, M.; Iordanova, A.; Isenhower, D.; Isinhue, A.; Ito, Y.; Ivanishchev, D.; Jacak, B. V.; Jeon, S. J.; Jezghani, M.; Ji, Z.; Jia, J.; Jiang, X.; Johnson, B. M.; Joo, E.; Joo, K. S.; Jorjadze, V.; Jouan, D.; Jumper, D. S.; Kamin, J.; Kanda, S.; Kang, B. H.; Kang, J. H.; Kang, J. S.; Kapukchyan, D.; Kapustinsky, J.; Karthas, S.; Kawall, D.; Kazantsev, A. V.; Key, J. A.; Khachatryan, V.; Khandai, P. K.; Khanzadeev, A.; Kihara, K.; Kijima, K. M.; Kim, C.; Kim, D. H.; Kim, D. J.; Kim, E. -J.; Kim, H. -J.; Kim, M. H.; Kim, M.; Kim, Y. -J.; Kim, Y. K.; Kincses, D.; Kistenev, E.; Klatsky, J.; Kleinjan, D.; Kline, P.; Koblesky, T.; Kofarago, M.; Komkov, B.; Koster, J.; Kotchetkov, D.; Kotov, D.; Krizek, F.; Kudo, S.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Kwon, Y.; Lacey, R.; Lai, Y. S.; Lajoie, J. G.; Lallow, E. O.; Lebedev, A.; Lee, D. M.; Lee, G. H.; Lee, J.; Lee, K. B.; Lee, K. S.; Lee, S.; Lee, S. H.; Leitch, M. J.; Leitgab, M.; Leung, Y. H.; Lewis, B.; Lewis, N. A.; Li, X.; Lim, S. H.; Liu, L. D.; Liu, M. X.; Loggins, V-R; Lovasz, K.; Lynch, D.; Maguire, C. F.; Majoros, T.; Makdisi, Y. I.; Makek, M.; Malaev, M.; Manion, A.; Manko, V. I.; Mannel, E.; Masuda, H.; McCumber, M.; McGaughey, P. L.; McGlinchey, D.; McKinney, C.; Meles, A.; Mendoza, M.; Meredith, B.; Miake, Y.; Mibe, T.; Mignerey, A. C.; Mihalik, D. E.; Miller, A. J.; Milov, A.; Mishra, D. K.; Mitchell, J. T.; Mitsuka, G.; Miyasaka, S.; Mizuno, S.; Mohanty, A. K.; Mohapatra, S.; Montuenga, P.; Moon, T.; Morrison, D. P.; Morrow, S. I. M.; Moskowitz, M.; Moukhanova, T. V.; Murakami, T.; Murata, J.; Mwai, A.; Nagae, T.; Nagai, K.; Nagamiya, S.; Nagashima, K.; Nagashima, T.; Nagle, J. L.; Nagy, M. I.; Nakagawa, I.; Nakagomi, H.; Nakamiya, Y.; Nakamura, K. R.; Nakamura, T.; Nakano, K.; Nattrass, C.; Netrakanti, P. K.; Nihashi, M.; Niida, T.; Nouicer, R.; Novak, T.; Novitzky, N.; Novotny, R.; Nyanin, A. S.; O'Brien, E.; Ogilvie, C. A.; Oide, H.; Okada, K.; Koop, J. D. Orjuela; Osborn, J. D.; Oskarsson, A.; Ottino, G. J.; Ozawa, K.; Pak, R.; Pantuev, V.; Papavassiliou, V.; Park, I. H.; Park, J. S.; Park, S.; Park, S. K.; Pate, S. F.; Patel, L.; Patel, M.; Peng, J. -C.; Peng, W.; Perepelitsa, D. V.; Perera, G. D. N.; Peressounko, D. Yu.; PerezLara, C. E.; Perry, J.; Petti, R.; Phipps, M.; Pinkenburg, C.; Pinson, R.; Pisani, R. P.; Pun, A.; Purschke, M. L.; Qu, H.; Rak, J.; Ravinovich, I.; Read, K. F.; Reynolds, D.; Riabov, V.; Riabov, Y.; Richardson, E.; Richford, D.; Rinn, T.; Riveli, N.; Roach, D.; Rolnick, S. D.; Rosati, M.; Rowan, Z.; Rubin, J. G.; Runchey, J.; Ryu, M. S.; Safonov, A. S.; Sahlmueller, B.; Saito, N.; Sakaguchi, T.; Sako, H.; Samsonov, V.; Sarsour, M.; Sato, K.; Sato, S.; Sawada, S.; Schaefer, B.; Schmoll, B. K.; Sedgwick, K.; Seele, J.; Seidl, R.; Sekiguchi, Y.; Sen, A.; Seto, R.; Sett, P.; Sexton, A.; Sharma, D.; Shaver, A.; Shein, I.; Shibata, T. -A.; Shigaki, K.; Shimomura, M.; Shioya, T.; Shoji, K.; Shukla, P.; Sickles, A.; Silva, C. L.; Silvermyr, D.; Singh, B. K.; Singh, C. P.; Singh, V.; Skolnik, M.; Slunecka, M.; Smith, K. L.; Snowball, M.; Solano, S.; Soltz, R. A.; Sondheim, W. E.; Sorensen, S. P.; Sourikova, I. V.; Stankus, P. W.; Steinberg, P.; Stenlund, E.; Stepanov, M.; Ster, A.; Stoll, S. P.; Stone, M. R.; Sugitate, T.; Sukhanov, A.; Sumita, T.; Sun, J.; Syed, S.; Sziklai, J.; Takahara, A.; Takeda, A.; Taketani, A.; Tanaka, Y.; Tanida, K.; Tannenbaum, M. J.; Tarafdar, S.; Taranenko, A.; Tarnai, G.; Tennant, E.; Tieulent, R.; Timilsina, A.; Todoroki, T.; Tomasek, M.; Torii, H.; Towell, C. L.; Towell, M.; Towell, R.; Towell, R. S.; Tserruya, I.; Ueda, Y.; Ujvari, B.; van Hecke, H. W.; Vargyas, M.; Vazquez-Carson, S.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Velkovska, J.; Vertesi, R.; Virius, M.; Vrba, V.; Vukman, N.; Vznuzdaev, E.; Wang, X. R.; Wang, Z.; Watanabe, D.; Watanabe, K.; Watanabe, Y.; Watanabe, Y. S.; Wei, F.; Whitaker, S.; Wolin, S.; Wong, C. P.; Woody, C. L.; Wysocki, M.; Xia, B.; Xu, C.; Xu, Q.; Xue, L.; Yalcin, S.; Yamaguchi, Y. L.; Yamamoto, H.; Yanovich, A.; Yin, P.; Yokkaichi, S.; Yoo, J. H.; Yoon, I.; You, Z.; Younus, I.; Yu, H.; Yushmanov, I. E.; Zajc, W. A.; Zelenski, A.; Zharko, S.; Zhou, S.; Zou, L.
- Issue Date
- 4-4월-2017
- Publisher
- AMER PHYSICAL SOC
- Citation
- PHYSICAL REVIEW D, v.95, no.7
- Indexed
- SCIE
SCOPUS
- Journal Title
- PHYSICAL REVIEW D
- Volume
- 95
- Number
- 7
- URI
- https://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/83787
- DOI
- 10.1103/PhysRevD.95.072002
- ISSN
- 2470-0010
- Abstract
- Dihadron and isolated direct photon-hadron angular correlations are measured in p + p collisions at root s = 510 GeV. Correlations of charged hadrons of 0.7 < p(T) < 10 GeV/c with pi(0) mesons of 4 < p(T) < 15 GeV/c or isolated direct photons of 7 < p(T) < 15 GeV/c are used to study nonperturbative effects generated by initial-state partonic transverse momentum and final-state transverse momentum from fragmentation. The nonperturbative behavior is characterized by measuring the out-of-plane transverse momentum component p(out) perpendicular to the axis of the trigger particle, which is the high-p(T) direct photon or pi(0). Nonperturbative evolution effects are extracted from Gaussian fits to the away-side inclusive-charged-hadron yields for different trigger-particle transverse momenta (p(T)(trig)). The Gaussian widths and root mean square of p(out) are reported as a function of the interaction hard scale p(T)(trig) to investigate possible transverse-momentum-dependent evolution differences between the pi(0)-h(+/-) and direct photon-h(+/-) correlations and factorization breaking effects. The widths are found to decrease with p(T)(trig) , which indicates that the Collins-Soper-Sterman soft factor is not driving the evolution with the hard scale in nearly back-to-back dihadron and direct photon-hadron production in p + p collisions. This behavior is in contrast to Drell-Yan and semi-inclusive deep-inelastic scattering measurements.
- Files in This Item
- There are no files associated with this item.
- Appears in
Collections - College of Science > Department of Physics > 1. Journal Articles
Items in ScholarWorks are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.