Cross section for b(b)over-bar production via dielectrons in d plus Au collisions at root s(NN)=200 GeV

Adare, A.; Aidala, C.; Ajitanand, N. N.; Akiba, Y.; Al-Bataineh, H.; Alexander, J.; Angerami, A.; Aoki, K.; Apadula, N.; Aramaki, Y.; Atomssa, E. T.; Averbeck, R.; Awes, T. C.; Azmoun, B.; Babintsev, V.; Bai, M.; Baksay, G.; Baksay, L.; Barish, K. N.; Bassalleck, B.; Basye, A. T.; Bathe, S.; Baublis, V.; Baumann, C.; Bazilevsky, A.; Belikov, S.; Belmont, R.; Bennett, R.; Bhom, J. H.; Blau, D. S.; Bok, J. S.; Boyle, K.; Brooks, M. L.; Buesching, H.; Bumazhnov, V.; Bunce, G.; Butsyk, S.; Campbell, S.; Caringi, A.; Chen, C. -H.; Chi, C. Y.; Chiu, M.; Choi, I. J.; Choi, J. B.; Choudhury, R. K.; Christiansen, P.; Chujo, T.; Chung, P.; Chvala, O.; Cianciolo, V.; Citron, Z.; Cole, B. A.; del Valle, Z. Conesa; Connors, M.; Csanad, M.; Csoergo, T.; Dahms, T.; Dairaku, S.; Danchev, I.; Das, K.; Datta, A.; David, G.; Dayananda, M. K.; Denisov, A.; Deshpande, A.; Desmond, E. J.; Dharmawardane, K. V.; Dietzsch, O.; Dion, A.; Donadelli, M.; Drapier, O.; Drees, A.; Drees, K. A.; Durham, J. M.; Durum, A.; Dutta, D.; D&apos;Orazio, L.; Edwards, S.; Efremenko, Y. V.; Ellinghaus, F.; Engelmore, T.; Enokizono, A.; En&apos;yo, H.; Esumi, S.; Fadem, B.; Fields, D. E.; Finger, M.; Finger, M., Jr.; Fleuret, F.; Fokin, S. L.; Fraenkel, Z.; Frantz, J. E.; Franz, A.; Frawley, A. D.; Fujiwara, K.; Fukao, Y.; Fusayasu, T.; Garishvili, I.; Glenn, A.; Gong, H.; Gonin, M.; Goto, Y.; de Cassagnac, R. Granier; Grau, N.; Greene, S. V.; Grim, G.; Perdekamp, M. Grosse; Gunji, T.; Gustafsson, H. -A.; Haggerty, J. S.; Hahn, K. I.; Hamagaki, H.; Hamblen, J.; Han, R.; Hanks, J.; Haslum, E.; Hayano, R.; He, X.; Heffner, M.; Hemmick, T. K.; Hester, T.; Hill, J. C.; Hohlmann, M.; Holzmann, W.; Homma, K.; Hong, B.; Horaguchi, T.; Hornback, D.; Huang, S.; Ichihara, T.; Ichimiya, R.; Ikeda, Y.; Imai, K.; Inaba, M.; Isenhower, D.; Ishihara, M.; Issah, M.; Ivanischev, D.; Iwanaga, Y.; Jacak, B. V.; Jia, J.; Jiang, X.; Jin, J.; Johnson, B. M.; Jones, T.; Joo, K. S.; Jouan, D.; Jumper, D. S.; Kajihara, F.; Kamin, J.; Kang, J. H.; Kapustinsky, J.; Karatsu, K.; Kasai, M.; Kawall, D.; Kawashima, M.; Kazantsev, A. V.; Kempel, T.; Khanzadeev, A.; Kijima, K. M.; Kikuchi, J.; Kim, A.; Kim, B. I.; Kim, D. J.; Kim, E. -J.; Kim, Y. -J.; Kinney, E.; Kiss, A.; Kistenev, E.; Kleinjan, D.; Kochenda, L.; Komkov, B.; Konno, M.; Koster, J.; Kral, A.; Kravitz, A.; Kunde, G. J.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Kwon, Y.; Kyle, G. S.; Lacey, R.; Lai, Y. S.; Lajoie, J. G.; Lebedev, A.; Lee, D. M.; Lee, J.; Lee, K. B.; Lee, K. S.; Leitch, M. J.; Leite, M. A. L.; Li, X.; Lichtenwalner, P.; Liebing, P.; Levy, L. A. Linden; Liska, T.; Liu, H.; Liu, M. X.; Love, B.; Lynch, D.; Maguire, C. F.; Makdisi, Y. I.; Malik, M. D.; Manko, V. I.; Mannel, E.; Mao, Y.; Masui, H.; Matathias, F.; McCumber, M.; McGaughey, P. L.; McGlinchey, D.; Means, N.; Meredith, B.; Miake, Y.; Mibe, T.; Mignerey, A. C.; Miki, K.; Milov, A.; Mitchell, J. T.; Mohanty, A. K.; Moon, H. J.; Morino, Y.; Morreale, A.; Morrison, D. P.; Moukhanova, T. V.; Murakami, T.; Murata, J.; Nagamiya, S.; Nagle, J. L.; Naglis, M.; Nagy, M. I.; Nakagawa, I.; Nakamiya, Y.; Nakamura, K. R.; Nakamura, T.; Nakano, K.; Nam, S.; Newby, J.; Nguyen, M.; Nihashi, M.; Nouicer, R.; Nyanin, A. S.; Oakley, C.; O&apos;Brien, E.; Oda, S. X.; Ogilvie, C. A.; Oka, M.; Okada, K.; Onuki, Y.; Oskarsson, A.; Ouchida, M.; Ozawa, K.; Pak, R.; Pantuev, V.; Papavassiliou, V.; Park, I. H.; Park, S. K.; Park, W. J.; Pate, S. F.; Pei, H.; Peng, J. -C.; Pereira, H.; Peressounko, D. Yu.; Petti, R.; Pinkenburg, C.; Pisani, R. P.; Proissl, M.; Purschke, M. L.; Qu, H.; Rak, J.; Ravinovich, I.; Read, K. F.; Rembeczki, S.; Reygers, K.; Riabov, V.; Riabov, Y.; Richardson, E.; Roach, D.; Roche, G.; Rolnick, S. D.; Rosati, M.; Rosen, C. A.; Rosendahl, S. S. E.; Ruzicka, P.; Sahlmueller, B.; Saito, N.; Sakaguchi, T.; Sakashita, K.; Samsonov, V.; Sano, S.; Sato, T.; Sawada, S.; Sedgwick, K.; Seele, J.; Seidl, R.; Seto, R.; Sharma, D.; Shein, I.; Shibata, T. -A.; Shigaki, K.; Shimomura, M.; Shoji, K.; Shukla, P.; Sickles, A.; Silva, C. L.; Silvermyr, D.; Silvestre, C.; Sim, K. S.; Singh, B. K.; Singh, C. P.; Singh, V.; Slunecka, M.; Soltz, R. A.; Sondheim, W. E.; Sorensen, S. P.; Sourikova, I. V.; Stankus, P. W.; Stenlund, E.; Stoll, S. P.; Sugitate, T.; Sukhanov, A.; Sziklai, J.; Takagui, E. M.; Taketani, A.; Tanabe, R.; Tanaka, Y.; Taneja, S.; Tanida, K.; Tannenbaum, M. J.; Tarafdar, S.; Taranenko, A.; Themann, H.; Thomas, D.; Thomas, T. L.; Togawa, M.; Toia, A.; Tomasek, L.; Torii, H.; Towell, R. S.; Tserruya, I.; Tsuchimoto, Y.; Vale, C.; Valle, H.; van Hecke, H. W.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Velkovska, J.; Vertesi, R.; Virius, M.; Vrba, V.; Vznuzdaev, E.; Wang, X. R.; Watanabe, D.; Watanabe, K.; Watanabe, Y.; Wei, F.; Wei, R.; Wessels, J.; White, S. N.; Winter, D.; Woody, C. L.; Wright, R. M.; Wysocki, M.; Yamaguchi, Y. L.; Yamaura, K.; Yang, R.; Yanovich, A.; Ying, J.; Yokkaichi, S.; You, Z.; Young, G. R.; Younus, I.; Yushmanov, I. E.; Zajc, W. A.; Zhou, S.

doi:10.1103/PhysRevC.91.014907

Detailed Information

Cited 0 time in webofscience

Cited 0 time in scopus

Metadata Downloads

Cross section for b(b)over-bar production via dielectrons in d plus Au collisions at root s(NN)=200 GeV

Authors: Adare, A.; Aidala, C.; Ajitanand, N. N.; Akiba, Y.; Al-Bataineh, H.; Alexander, J.; Angerami, A.; Aoki, K.; Apadula, N.; Aramaki, Y.; Atomssa, E. T.; Averbeck, R.; Awes, T. C.; Azmoun, B.; Babintsev, V.; Bai, M.; Baksay, G.; Baksay, L.; Barish, K. N.; Bassalleck, B.; Basye, A. T.; Bathe, S.; Baublis, V.; Baumann, C.; Bazilevsky, A.; Belikov, S.; Belmont, R.; Bennett, R.; Bhom, J. H.; Blau, D. S.; Bok, J. S.; Boyle, K.; Brooks, M. L.; Buesching, H.; Bumazhnov, V.; Bunce, G.; Butsyk, S.; Campbell, S.; Caringi, A.; Chen, C. -H.; Chi, C. Y.; Chiu, M.; Choi, I. J.; Choi, J. B.; Choudhury, R. K.; Christiansen, P.; Chujo, T.; Chung, P.; Chvala, O.; Cianciolo, V.; Citron, Z.; Cole, B. A.; del Valle, Z. Conesa; Connors, M.; Csanad, M.; Csoergo, T.; Dahms, T.; Dairaku, S.; Danchev, I.; Das, K.; Datta, A.; David, G.; Dayananda, M. K.; Denisov, A.; Deshpande, A.; Desmond, E. J.; Dharmawardane, K. V.; Dietzsch, O.; Dion, A.; Donadelli, M.; Drapier, O.; Drees, A.; Drees, K. A.; Durham, J. M.; Durum, A.; Dutta, D.; D'Orazio, L.; Edwards, S.; Efremenko, Y. V.; Ellinghaus, F.; Engelmore, T.; Enokizono, A.; En'yo, H.; Esumi, S.; Fadem, B.; Fields, D. E.; Finger, M.; Finger, M., Jr.; Fleuret, F.; Fokin, S. L.; Fraenkel, Z.; Frantz, J. E.; Franz, A.; Frawley, A. D.; Fujiwara, K.; Fukao, Y.; Fusayasu, T.; Garishvili, I.; Glenn, A.; Gong, H.; Gonin, M.; Goto, Y.; de Cassagnac, R. Granier; Grau, N.; Greene, S. V.; Grim, G.; Perdekamp, M. Grosse; Gunji, T.; Gustafsson, H. -A.; Haggerty, J. S.; Hahn, K. I.; Hamagaki, H.; Hamblen, J.; Han, R.; Hanks, J.; Haslum, E.; Hayano, R.; He, X.; Heffner, M.; Hemmick, T. K.; Hester, T.; Hill, J. C.; Hohlmann, M.; Holzmann, W.; Homma, K.; Hong, B.; Horaguchi, T.; Hornback, D.; Huang, S.; Ichihara, T.; Ichimiya, R.; Ikeda, Y.; Imai, K.; Inaba, M.; Isenhower, D.; Ishihara, M.; Issah, M.; Ivanischev, D.; Iwanaga, Y.; Jacak, B. V.; Jia, J.; Jiang, X.; Jin, J.; Johnson, B. M.; Jones, T.; Joo, K. S.; Jouan, D.; Jumper, D. S.; Kajihara, F.; Kamin, J.; Kang, J. H.; Kapustinsky, J.; Karatsu, K.; Kasai, M.; Kawall, D.; Kawashima, M.; Kazantsev, A. V.; Kempel, T.; Khanzadeev, A.; Kijima, K. M.; Kikuchi, J.; Kim, A.; Kim, B. I.; Kim, D. J.; Kim, E. -J.; Kim, Y. -J.; Kinney, E.; Kiss, A.; Kistenev, E.; Kleinjan, D.; Kochenda, L.; Komkov, B.; Konno, M.; Koster, J.; Kral, A.; Kravitz, A.; Kunde, G. J.; Kurita, K.; Kurosawa, M.; Kwon, Y.; Kyle, G. S.; Lacey, R.; Lai, Y. S.; Lajoie, J. G.; Lebedev, A.; Lee, D. M.; Lee, J.; Lee, K. B.; Lee, K. S.; Leitch, M. J.; Leite, M. A. L.; Li, X.; Lichtenwalner, P.; Liebing, P.; Levy, L. A. Linden; Liska, T.; Liu, H.; Liu, M. X.; Love, B.; Lynch, D.; Maguire, C. F.; Makdisi, Y. I.; Malik, M. D.; Manko, V. I.; Mannel, E.; Mao, Y.; Masui, H.; Matathias, F.; McCumber, M.; McGaughey, P. L.; McGlinchey, D.; Means, N.; Meredith, B.; Miake, Y.; Mibe, T.; Mignerey, A. C.; Miki, K.; Milov, A.; Mitchell, J. T.; Mohanty, A. K.; Moon, H. J.; Morino, Y.; Morreale, A.; Morrison, D. P.; Moukhanova, T. V.; Murakami, T.; Murata, J.; Nagamiya, S.; Nagle, J. L.; Naglis, M.; Nagy, M. I.; Nakagawa, I.; Nakamiya, Y.; Nakamura, K. R.; Nakamura, T.; Nakano, K.; Nam, S.; Newby, J.; Nguyen, M.; Nihashi, M.; Nouicer, R.; Nyanin, A. S.; Oakley, C.; O'Brien, E.; Oda, S. X.; Ogilvie, C. A.; Oka, M.; Okada, K.; Onuki, Y.; Oskarsson, A.; Ouchida, M.; Ozawa, K.; Pak, R.; Pantuev, V.; Papavassiliou, V.; Park, I. H.; Park, S. K.; Park, W. J.; Pate, S. F.; Pei, H.; Peng, J. -C.; Pereira, H.; Peressounko, D. Yu.; Petti, R.; Pinkenburg, C.; Pisani, R. P.; Proissl, M.; Purschke, M. L.; Qu, H.; Rak, J.; Ravinovich, I.; Read, K. F.; Rembeczki, S.; Reygers, K.; Riabov, V.; Riabov, Y.; Richardson, E.; Roach, D.; Roche, G.; Rolnick, S. D.; Rosati, M.; Rosen, C. A.; Rosendahl, S. S. E.; Ruzicka, P.; Sahlmueller, B.; Saito, N.; Sakaguchi, T.; Sakashita, K.; Samsonov, V.; Sano, S.; Sato, T.; Sawada, S.; Sedgwick, K.; Seele, J.; Seidl, R.; Seto, R.; Sharma, D.; Shein, I.; Shibata, T. -A.; Shigaki, K.; Shimomura, M.; Shoji, K.; Shukla, P.; Sickles, A.; Silva, C. L.; Silvermyr, D.; Silvestre, C.; Sim, K. S.; Singh, B. K.; Singh, C. P.; Singh, V.; Slunecka, M.; Soltz, R. A.; Sondheim, W. E.; Sorensen, S. P.; Sourikova, I. V.; Stankus, P. W.; Stenlund, E.; Stoll, S. P.; Sugitate, T.; Sukhanov, A.; Sziklai, J.; Takagui, E. M.; Taketani, A.; Tanabe, R.; Tanaka, Y.; Taneja, S.; Tanida, K.; Tannenbaum, M. J.; Tarafdar, S.; Taranenko, A.; Themann, H.; Thomas, D.; Thomas, T. L.; Togawa, M.; Toia, A.; Tomasek, L.; Torii, H.; Towell, R. S.; Tserruya, I.; Tsuchimoto, Y.; Vale, C.; Valle, H.; van Hecke, H. W.; Vazquez-Zambrano, E.; Veicht, A.; Velkovska, J.; Vertesi, R.; Virius, M.; Vrba, V.; Vznuzdaev, E.; Wang, X. R.; Watanabe, D.; Watanabe, K.; Watanabe, Y.; Wei, F.; Wei, R.; Wessels, J.; White, S. N.; Winter, D.; Woody, C. L.; Wright, R. M.; Wysocki, M.; Yamaguchi, Y. L.; Yamaura, K.; Yang, R.; Yanovich, A.; Ying, J.; Yokkaichi, S.; You, Z.; Young, G. R.; Younus, I.; Yushmanov, I. E.; Zajc, W. A.; Zhou, S.

Issue Date: 26-1월-2015

Publisher: AMER PHYSICAL SOC

Citation: PHYSICAL REVIEW C, v.91, no.1

Indexed: SCIE
SCOPUS

Journal Title: PHYSICAL REVIEW C

Volume: 91

Number: 1

URI: https://scholar.korea.ac.kr/handle/2021.sw.korea/94613

DOI: 10.1103/PhysRevC.91.014907

ISSN: 0556-2813

Abstract: We report a measurement of e(+)e(-) pairs from semileptonic heavy-flavor decays in d + Au collisions at root s(NN) = 200 GeV. By exploring the mass and transverse-momentum dependence of the yield, the bottom decay contribution can be isolated from charm, and quantified by comparison to PYTHIA and MC@NLO simulations. The resulting b (b) over bar -production cross section is sigma(dAu)(b (b) over bar) = 1.37 +/- 0.28 (stat) +/- 0.46 (syst) mb, which is equivalent to a nucleon-nucleon cross section of sigma(NN)(b (b) over bar) = 3.4 +/- 0.8 (stat) +/- 1.1 ( syst) mu b.

Files in This Item: There are no files associated with this item.

Appears in Collections: College of Science > Department of Physics > 1. Journal Articles

Show full item record

qrcode

Related Researcher

Researcher Hong, Byung sik photo

Hong, Byung sik: 이과대학 (물리학과)

Read more

Altmetrics

Total Views & Downloads

STATISTICS: Total View :9,523,245; Today View :15,911

RSS_1.0 RSS_2.0 ATOM_1.0

(02841) 서울특별시 성북구 안암로 14502-3290-1114

Certain data included herein are derived from the © Web of Science of Clarivate Analytics. All rights reserved.
You may not copy or re-distribute this material in whole or in part without the prior written consent of Clarivate Analytics.

Detailed Information

Related Researcher

Altmetrics

Total Views & Downloads

BROWSE