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고분해능 반도체 검출기 배열을 활용한 Fluorescent X-ray Computed Tomography(FXCT) 시스템의 적용 가능성 실험 결과고분해능 반도체 검출기 배열을 활용한 Fluorescent X-ray Computed Tomography(FXCT) 시스템의 적용 가능성 실험 결과
- Alternative Title
- 고분해능 반도체 검출기 배열을 활용한 Fluorescent X-ray Computed Tomography(FXCT) 시스템의 적용 가능성 실험 결과
- Authors
- Wonho Lee
- Issue Date
- 22-11월-2018
- Publisher
- 대한방사선방어학회
- Citation
- 2018년 추계 대한방사선방어학회
- Conference Name
- 2018년 추계 대한방사선방어학회
- Place
- KO
- Conference Date
- 2018-11-21
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